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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45966. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45966
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45967. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45967
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45968. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45968
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45969. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45969
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45970. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45970
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45971. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45971
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45972. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45972
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45973. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45973
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下3.（＋）赤4（60）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45974. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45974
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45975. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45975
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45976. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45976
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45977. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45977
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45978. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45978
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45979. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45979
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0（4）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45980. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45980
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45981. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45981
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下1.5（＋）赤5（180）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45982. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45982
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45983. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45983
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45984. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45984
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45985. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45985
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45986. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45986
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45987. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45987
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45988. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45988
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45989. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45989
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下1.5（＋）赤4（160）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45990. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45990
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45991. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45991
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45992. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45992
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45993. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45993
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45994. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45994
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45995. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45995
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45996. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45996
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0（4）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45997. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45997
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45998. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45998
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45999. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45999
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　下5.5（＋）黒11（340）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46000. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46000
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46001. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46001
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46002. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46002
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46003. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46003
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＜＜0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46004. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46004
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46005. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46005
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46006. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46006
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46007. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46007
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46008. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46008
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　下11.5（＋）黒14（320）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46009. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46009
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46010. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46010
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46011. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46011
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46012. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46012
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46013. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46013
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46014. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46014
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46015. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46015
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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