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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54349. Ni-2Si, JMTR　controlled, 290℃, 4., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54349
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (照射量)4.

(備考)dislocationある深い所.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54350. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54350
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54351. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54351
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54352. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54352
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54353. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54353
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54354. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54354
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54355. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54355
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54356. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54356
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54357. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54357
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54358. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54358
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54359. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54359
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54360. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54360
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54361. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54361
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54362. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, ED., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54362
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54363. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, LM., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54363
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (条件・倍率等)LM.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54364. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54364
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54365. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54365
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54366. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54366
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54367. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54367
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54368. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54368
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54369. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54369
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54370. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54370
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54371. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54371
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54372. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54372
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54373. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54373
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54374. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54374
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54375. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54375
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54376. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, ED., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54376
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54377. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54377
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)前のとなりのgrain.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54378. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54378
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54379. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54379
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54380. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, BF, 5.2K., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54380
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.2K.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54381. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54381
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54382. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54382
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54383. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃, ED., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54383
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54384. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54384
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

(備考)反対のGB.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54385. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54385
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54386. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54386
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54387. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54387
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54388. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54388
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54389. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54389
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54390. Mo, RTNS-II, 550℃, S, DF, 100K., [19]'89 1/29.

 アイテム
資料番号: O-54390
範囲と内容

(試料)Mo. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「'89 1/29」.

日付: [19]'89 1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54391. Mo, RTNS-II, 550℃, S, BF, 100K., [19]'89 1/29.

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資料番号: O-54391
範囲と内容

(試料)Mo. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89 1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54392. Mo, RTNS-II, 550℃, S, DF, 100K., [19]'89 1/29.

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資料番号: O-54392
範囲と内容

(試料)Mo. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [19]'89 1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54393. Mo, RTNS-II, 550℃, S, DF, 100K., [19]'89 1/29.

 アイテム
資料番号: O-54393
範囲と内容

(試料)Mo. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [19]'89 1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54394. Mo, RTNS-II, 550℃, S, DF, 100K., [19]'89 1/29.

 アイテム
資料番号: O-54394
範囲と内容

(試料)Mo. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89 1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54395. Mo, RTNS-II, 550℃, S, BF, 100K., [19]'89 1/29.

 アイテム
資料番号: O-54395
範囲と内容

(試料)Mo. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89 1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54396. Mo, RTNS-II, 550℃, S, DF, 100K., [19]'89 1/29.

 アイテム
資料番号: O-54396
範囲と内容

(試料)Mo. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [19]'89 1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54397. Mo, RTNS-II, 550℃, S, DF, 100K., [19]'89 1/29.

 アイテム
資料番号: O-54397
範囲と内容

(試料)Mo. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [19]'89 1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54398. Mo, RTNS-II, 550℃, S, ED., [19]'89 1/29.

 アイテム
資料番号: O-54398
範囲と内容

(試料)Mo. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]'89 1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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