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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59982. Ni, RTNS-II, 450℃, SS, DE., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59982
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59983. Ni, RTNS-II, 450℃, SS, DE., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59983
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59984. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59984
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59985. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59985
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59986. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59986
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59987. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59987
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59988. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11, DF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59988
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59989. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11, DF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59989
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59990. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11, DF, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59990
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)60K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59991. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59991
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)60K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59992. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11, BF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59992
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59993. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59993
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)よごれひどい.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59994. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59994
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59995. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, DF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59995
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59996. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, DF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59996
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59997. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, DF, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59997
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)60K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59998. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, BF, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59998
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)60K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59999. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59999
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)110.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60000. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60000
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)110.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60001. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60001
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)110.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60002. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60002
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60003. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60003
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60004. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60004
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60005. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60005
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60006. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, 80K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60006
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)80K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60007. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60007
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)60K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60008. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60008
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)60K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60009. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60009
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60010. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60010
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)2-20. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60011. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60011
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)2-20. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60012. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60012
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)2-20.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60013. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, BF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60013
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60014. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, BF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60014
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60015. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60015
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61021. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61021
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

(備考)loop　組み写真用低倍写真.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61022. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61022
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61023. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61023
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61024. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61024
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61025. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61025
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61026. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61026
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61027. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61027
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61028. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61028
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61029. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61029
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61030. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61030
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61031. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61031
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61032. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61032
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61033. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61033
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200.

(備考)A.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61034. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61034
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200.

(備考)B.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61035. 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61035
範囲と内容

(条件・倍率等)11K.

(備考) 見開きに記載なし, 脱漏ヵ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61036. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61036
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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