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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61237. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF, 21K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61237
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61238. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61238
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61239. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF, 53K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61239
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)53K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61240. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF, 53K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61240
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)53K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61241. Ni, JMTR controlled　, 350℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61241
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61242. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61242
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61243. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61243
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61244. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61244
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61245. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61245
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61246. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61246
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61247. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61247
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61248. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61248
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61249. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61249
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61250. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61250
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61251. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, BF, 8K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61251
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61252. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, BF, 21K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61252
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61253. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, BF　　, 80K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61253
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61254. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61254
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61255. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61255
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61256. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61256
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)Nature判定　-12黒6（0）A　α.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61257. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61257
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)B　α.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61258. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61258
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61259. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61259
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β　＋2赤0-3（240）.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61260. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61260
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　β.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61261. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61261
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61262. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61262
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　β　＋ｇ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61263. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61263
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　β　＋ｇ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61264. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61264
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61265. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61265
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)A　γ-ｇ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61266. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61266
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)B　γ-ｇ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61267. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61267
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61268. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61268
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61269. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61269
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)　-ｇ　B.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61270. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61270
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)　＋g　B.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61271. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61271
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃.

(備考)X.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61272. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61272
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃.

(備考)X.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61273. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61273
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61274. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61274
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61275. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61275
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61276. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61276
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61277. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61277
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61278. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61278
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61279. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61279
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61280. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61280
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61281. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61281
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61282. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61282
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61283. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61283
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)Boundary.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61284. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61284
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61285. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61285
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61286. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DE, 21K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61286
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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