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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65027. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, BF., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65027
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)エッジ.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65028. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, ED., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65028
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65029. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65029
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃.

(備考)map.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65030. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, DF, 52K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65030
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ケンマ３回.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65031. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, BF, 52K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65031
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65032. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, DF, 52K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65032
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65033. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, ED., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65033
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65034. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65034
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65035. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, BF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65035
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65036. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65036
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65037. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65037
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65038. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65038
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65039. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65039
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65040. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65040
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65041. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, BF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65041
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65042. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65042
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65043. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65043
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65044. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65044
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃.

(備考)map.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65045. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65045
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃.

(備考)map.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65046. JHM-2, JMTR, 200℃, BF, 11K., [19]90. 9. 13.

 アイテム
資料番号: O-65046
範囲と内容

(試料)JHM-2. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)1L. 日付元記載「90. 9. 13.」. 実験者元記載「（円の中に）浜」.

日付: [19]90. 9. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65047. JHM-2, JMTR, 200℃, BF, 11K., [19]90. 9. 13.

 アイテム
資料番号: O-65047
範囲と内容

(試料)JHM-2. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 9. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65048. JHM-2, JMTR, 200℃, DF, 11K., [19]90. 9. 13.

 アイテム
資料番号: O-65048
範囲と内容

(試料)JHM-2. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 9. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65049. JHM-2, JMTR, 200℃, DF, 52K., [19]90. 9. 13.

 アイテム
資料番号: O-65049
範囲と内容

(試料)JHM-2. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]90. 9. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65050. JHM-2, JMTR, 200℃, DF, 100K., [19]90. 9. 13.

 アイテム
資料番号: O-65050
範囲と内容

(試料)JHM-2. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]90. 9. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65051. JHM-2, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 9. 13.

 アイテム
資料番号: O-65051
範囲と内容

(試料)JHM-2. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 9. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65052. JHM-2, JMTR, 200℃, DF, 52K., [19]90. 9. 13.

 アイテム
資料番号: O-65052
範囲と内容

(試料)JHM-2. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]90. 9. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65053. JHM-2, JMTR, 200℃, DF, 100K., [19]90. 9. 13.

 アイテム
資料番号: O-65053
範囲と内容

(試料)JHM-2. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 9. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65054. JHM-2, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 9. 13.

 アイテム
資料番号: O-65054
範囲と内容

(試料)JHM-2. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 9. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65055. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65055
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)EMケンマ４回　歪んでいるためエッジ部分のみ.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65056. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65056
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)中央付近がs＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65057. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65057
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)GBそば　A.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65058. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65058
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)うすい方へ　A.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65059. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65059
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)A.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65060. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65060
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)A.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65061. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65061
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B　上と接するGrain.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65062. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65062
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)B.

日付: [1990年9月13日.]
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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65063. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65063
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　GBから離れる.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65064. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月13日.]

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資料番号: O-65064
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1990年9月13日.]
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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65065. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65065
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)SFT.

日付: [1990年9月13日.]
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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65066. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65066
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)SFT.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65067. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65067
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)SFT.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65068. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65068
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)SFT.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65069. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65069
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)？.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65070. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 31., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65070
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)転位のまわり.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65071. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 31., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65071
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)転位のまわり.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65072. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 31., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65072
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)転位のまわり.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65073. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65073
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)map　他のgrainは変形による転位チャネルなどが観察された。きちんと見えたのはこのgrainのみ.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65074. Au, RTNS-IIlast, RT, SS, DF., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65074
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)200.

(備考)EM (e-).

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65075. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65075
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65076. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65076
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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