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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65077. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65077
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65078. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65078
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65079. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65079
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65080. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65080
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65081. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65081
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65082. Au, RTNS-IIlast, RT, SS, ED., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65082
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65083. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65083
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65084. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65084
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65085. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65085
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65086. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65086
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0(2.2).

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65087. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65087
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0(1.7).

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65088. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65088
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0(1.8).

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65089. Au, RTNS-IIlast, RT, SS, ED., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65089
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65090. Au, RTNS-IIlast, RT, SS, BF., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65090
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65091. Au, RTNS-IIlast, RT, SS, BF., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65091
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)200.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65092. Au, RTNS-IIlast, RT, SS, DF., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65092
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65093. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65093
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65094. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65094
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65095. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65095
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65096. Au, RTNS-IIlast, RT, SS, BF., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65096
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)厚い試料.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65097. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65097
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65098. Au, RTNS-IIlast, RT, SS, BF., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65098
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)厚い試料.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65099. Au, RTNS-IIlast, RT, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65099
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65100. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65100
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)EM　ケンマ5回　map　0.0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65101. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65101
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)変形によるもの？.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65102. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65102
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65103. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65103
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65104. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65104
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)別grain　変形組織.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65105. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65105
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65106. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65106
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65107. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65107
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)チャネル.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65108. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65108
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65109. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65109
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65110. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65110
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)on　GB　同じGrain.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65111. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 16K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65111
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65112. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 16K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65112
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K. (反射ベクトルg)111？. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65113. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65113
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65114. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65114
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)map（not.00）.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65115. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65115
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65116. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65116
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65117. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65117
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65118. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65118
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65119. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 42K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65119
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65120. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65120
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65121. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65121
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)on　GB.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65122. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65122
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)GBそば　Aから離れる.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65123. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65123
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65124. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65124
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65125. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65125
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)これ以後200.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65126. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65126
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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