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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82695. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82695
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82696. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82696
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82697. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82697
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82698. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82698
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)転位.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82699. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82699
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)転位.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82700. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82700
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82701. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82701
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82702. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82702
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82703. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82703
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82704. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82704
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82705. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, ED., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82705
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82706. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82706
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)日付元記載「91. 9. 20」. 実験者元記載「（円の中に）浜田」.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82707. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82707
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82708. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82708
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82709. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82709
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82710. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82710
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82711. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82711
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82712. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82712
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82713. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82713
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82714. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82714
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82715. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82715
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82716. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82716
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82717. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82717
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「91. 9. 20」. 実験者元記載「（円の中に）浜田」.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82718. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82718
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82719. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82719
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82720. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82720
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82721. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82721
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82722. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82722
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82723. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82723
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82724. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82724
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82725. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82725
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82726. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82726
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82727. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82727
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82728. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82728
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82729. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, ED., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82729
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82730. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82730
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「91. 9. 20」. 実験者元記載「浜田」.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82731. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82731
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82732. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82732
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82733. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82733
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82734. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82734
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド　　広げてピント.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82735. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82735
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド　　絞ってピント.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82736. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82736
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)転位.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82737. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82737
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)転位.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82738. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82738
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82739. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82739
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82740. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82740
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82741. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82741
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82742. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, ED., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82742
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-83829. Au, JMTR, 120℃., 1992/5/1.

 アイテム
資料番号: O-83829
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α. 日付元記載「1992/5/1」.

日付: 1992/5/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-83830. Au, JMTR, 120℃., 1992/5/1.

 アイテム
資料番号: O-83830
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: 1992/5/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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