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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85019. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85019
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　別の面.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85020. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85020
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85021. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, BF, 100K？., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85021
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K？. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85022. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85022
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85023. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85023
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85024. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, ED., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85024
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85025. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85025
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85026. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85026
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85027. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85027
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85028. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85028
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85029. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 100K？., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85029
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K？. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85030. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85030
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85031. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85031
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85032. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85032
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85035. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85035
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α. 日付元記載「7/1」.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85036. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85036
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85037. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85037
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85038. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85038
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85039. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85039
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85040. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85040
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85041. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85041
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85042. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85042
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85043. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85043
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85044. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85044
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85045. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85045
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85046. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85046
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85047. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF？, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85047
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF？. (条件・倍率等)52K.

(備考)ボツ.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85048. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85048
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85049. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85049
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85050. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85050
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85051. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85051
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85052. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85052
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85053. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85053
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85054. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85054
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85055. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85055
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85056. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85056
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85057. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85057
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85058. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85058
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)日付元記載「7/1」.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85059. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85059
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85060. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85060
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85061. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85061
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85062. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85062
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-21.3黒1（220）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85063. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85063
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85064. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85064
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85065. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85065
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85066. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85066
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85067. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85067
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　-13.2赤2（100）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85068. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85068
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85069. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85069
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85070. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85070
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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