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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88279. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88279
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88280. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88280
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)Grain　boundary.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88281. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88281
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88282. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88282
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88283. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88283
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88284. Ni-2Si, A893, JMTR　controlled, 200℃, BF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88284
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)grain　boundary.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88285. Ni-2Si, A893, JMTR　controlled, 200℃, BF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88285
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88286. Ni-2Si, A893, JMTR　controlled, 200℃, BF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88286
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88287. Ni-2Si, A893, JMTR　controlled, 200℃, BF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88287
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88288. Ni, A861, JMTR, 120℃, DF, 52K., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: O-88288
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)日付元記載「1991. 2. 6.」.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88289. Ni, A861, JMTR, 120℃, ED., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: O-88289
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88290. Ni, A861, JMTR, 120℃, ED., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: O-88290
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)コンタミ多く断念.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88291. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, BF, 52K., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: O-88291
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88292. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, ED., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: O-88292
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Epitaxcial膜厚く不可能.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88293. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88293
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-7.2　赤1.5（140）A　near（110）.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88294. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88294
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88295. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88295
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88296. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88296
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88297. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, BF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88297
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88298. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88298
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-15.7赤2.5（240）A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88299. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88299
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88300. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88300
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88301. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, BF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88301
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88302. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88302
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88303. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88303
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88304. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88304
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88305. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88305
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88306. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88306
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88307. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88307
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88308. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88308
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88309. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88309
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88310. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88310
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88311. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88311
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88312. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88312
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88313. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88313
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88314. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88314
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88315. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88315
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88316. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88316
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88317. Au, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 31K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88317
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88318. Au, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88318
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88319. Au, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88319
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88320. Au, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88320
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88321. Au, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88321
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88322. Au, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88322
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88323. Au, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88323
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88324. Au, RTNS-IIlast, 150℃, SS., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88324
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(5).

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88325. Au, RTNS-IIlast, 150℃, SS, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88325
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88326. Au, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88326
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88327. Au, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88327
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88328. Au, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88328
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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