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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88529. Ni, A862, JMTR , 150℃, BF., 1991. 2. 7.

 アイテム
資料番号: O-88529
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A862. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)C.

日付: 1991. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88530. Ni, A862, JMTR , 150℃, DF, 52K., 1991. 2. 7.

 アイテム
資料番号: O-88530
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A862. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D　γ　＋1.1黒31（20）.

日付: 1991. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88531. Ni, A862, JMTR , 150℃, ED., 1991. 2. 7.

 アイテム
資料番号: O-88531
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A862. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1991. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88532. Ni, A862, JMTR , 150℃, BF, 52K., 1991. 2. 7.

 アイテム
資料番号: O-88532
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A862. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D.

日付: 1991. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88533. Ni, A862, JMTR , 150℃, DF., 1991. 2. 7.

 アイテム
資料番号: O-88533
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A862. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)δ　＋1.8黒22（140）.

日付: 1991. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88534. Ni, A862, JMTR , 150℃, ED., 1991. 2. 7.

 アイテム
資料番号: O-88534
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A862. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: 1991. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88535. Ni, A862, JMTR , 150℃, BF., 1991. 2. 7.

 アイテム
資料番号: O-88535
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A862. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)δ　-0.9黒18（140）.

日付: 1991. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88536. Ni, A982, JMTR , 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88536
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)EM　150℃-＞300℃　再pokishi　α-9.0黒12.5（140）A.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88537. Ni, A982, JMTR , 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88537
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88538. Ni, A982, JMTR , 150℃, DF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88538
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　B　.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88539. Ni, A982, JMTR , 150℃, DF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88539
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　A　.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88540. Ni, A982, JMTR , 150℃, DF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88540
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　B　.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88541. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88541
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　A　.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88542. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88542
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B　.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88543. Ni, A982, JMTR , 150℃., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88543
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88544. Ni, A982, JMTR , 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88544
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-4.0黒18（80）A.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88545. Ni, A982, JMTR , 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88545
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ベター　B.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88546. Ni, A982, JMTR , 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88546
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88547. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88547
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　A.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88548. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88548
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88549. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88549
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)独立　All G.B.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88550. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88550
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88551. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88551
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)両方のGrainにcontrast合わせる.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88552. Ni, A982, JMTR , 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88552
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)両方のGrainにcontrast合わせる.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88553. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88553
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)150℃-＞300℃　EM面polish　α-24赤6-9（180）.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88554. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88554
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88555. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88555
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88556. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88556
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88557. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88557
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88558. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88558
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88559. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88559
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88560. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88560
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88561. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88561
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88562. Ni-２Si, A892, 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88562
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88563. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88563
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　-29　＋-0.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88564. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88564
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88565. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88565
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88566. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88566
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88567. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88567
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88568. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88568
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88569. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88569
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88570. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88570
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88571. Ni-２Si, A892, 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88571
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88572. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88572
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α位置.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88573. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88573
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88574. Ni-２Si, A892, 150℃, BF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88574
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88575. Ni-２Si, A892, 150℃, BF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88575
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88576. Ni-２Si, A892, 150℃, BF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88576
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88577. Ni-２Cu, A922, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88577
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)150℃-＞300℃α　-24黒3-6（120）.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88578. Ni-２Cu, A922, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88578
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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