京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野
63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, シリーズ] L-88726. Ag, Cu Ion照射, RT., [1993年8月4日.]
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT.
(備考)ボツ.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88727. JPCAM, DF, 20K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)日付元記載「8/5」. 実験者元記載「堀木」.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88728. JPCAM, DF, 50K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88729. JPCAM, DF, 50K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88730. JPCAM, DF, 100K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88731. JPCAM, DF, 100K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88732. JPCAM, DF, 150K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88733. JPCAM, DF, 50K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88734. JPCAM, DF, 100K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88735. JPCAM, DF, 100K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88736. JPCAM, ED., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88737. JPCAM, DF, 10K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88738. JPCAM, DF, 50K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88739. JPCAM, DF, 50K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88740. JPCAM, DF, 50K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88741. JPCAM, DF, 50K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88742. JPCAM, DF, 100K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88743. JPCAM, DF, 100K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88744. JPCAM, DF, 100K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88745. JPCAM, DF, 150K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88746. JPCAM, DF, 150K., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88747. JPCAM, ED., [1993年]8/5.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88748. Ni, He 2MeV, BF, 50K., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)5μC α -5.5赤26(160)エッジ部分. 日付元記載「8/5」. 実験者元記載「by. 林」.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88749. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α その奥.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88750. Ni, He 2MeV., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.
(備考)α さらにその奥.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88751. Ni, He 2MeV, BF, 50K., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)β -4.0赤19(110).
[ネガフィルム, シリーズ] L-88752. Ni, He 2MeV., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88753. Ni, He 2MeV., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88754. Ni, He 2MeV, ED., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88755. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)エッジ部分.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88756. Ni, He 2MeV., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.
(備考)その奥.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88757. Ni, He 2MeV, BF, 100K., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88758. Ni, He 2MeV., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88759. Ni, He 2MeV., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.
(備考)更にその奥.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88760. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)エッジ部分 α -6.5赤29(160).
[ネガフィルム, シリーズ] L-88761. Ni, He 2MeV., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.
(備考)その奥 α.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88762. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β -5赤21(290).
[ネガフィルム, シリーズ] L-88763. Ni, He 2MeV., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88764. Ni, He 2MeV, ED., [1993年]8/5.
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88765. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年8月5日.]
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α -1赤2(260). 実験者元記載「by. 林」.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88766. Ni, He 2MeV, BF., [1993年8月5日.]
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88767. Ni, He 2MeV, BF., [1993年8月5日.]
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)α.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88768. Ni, He 2MeV, DF., [1993年8月5日.]
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α 65の奥.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88769. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年8月5日.]
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β -4赤10(310).
[ネガフィルム, シリーズ] L-88770. Ni, He 2MeV, DF., [1993年8月5日.]
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88771. Ni, He 2MeV, ED., [1993年8月5日.]
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88772. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年8月5日.]
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α -4赤0(250).
[ネガフィルム, シリーズ] L-88773. Ni, He 2MeV, BF., [1993年8月5日.]
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88774. Ni, He 2MeV, BF., [1993年8月5日.]
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)α.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88775. Ni, He 2MeV, DF., [1993年8月5日.]
(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α 72の奥.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
- ニッケル 11193
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
- 銅 7814
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
- 金 6400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
- 銅合金 2962
- 銀 2835
- ステンレス鋼 2785
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
- 鉄 2479
- ニッケル合金 2219
- バナジウム 1948
- 鉄合金 1400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
- ムライト 247
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 225
- アルミニウム 129
- ゲルマニウム 85
- ノート 63
- 材料試験 63
- 記録ノート Notebooks 63
- 電子顕微鏡 63
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 55
- 炭化珪素 54
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
- 珪素 6
- Collection 1
- アルミニウム合金 1
- 写真 1
- 原子炉材料 1
- 格子欠陥 1
- 結晶構造 1
- 金属材料 1
- 金属複合材料 1