京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野
63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, シリーズ] L-89512. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89513. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89514. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 50K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89515. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, BF, 50K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89516. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89517. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89518. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89519. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, BF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89520. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89521. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, BF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89522. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89523. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)α 0赤12（230）. 日付元記載「9/30」. 実験者元記載「Kiz.」.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89524. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)α.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89525. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)α.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89526. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)β 0赤0（220）.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89527. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89528. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89529. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, ED., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89530. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)別視野.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89531. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89532. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89533. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)α ＋16赤0（200）. 日付元記載「9/30」. 実験者元記載「Kiz.」.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89534. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)α.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89535. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)β ＋20黒6（40）.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89536. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89537. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89538. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, ED., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89539. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)α -15黒12（220）.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89540. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)α.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89541. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)β -10黒0（30）.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89542. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89543. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89544. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, ED., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89545. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)α ＋5赤0（230）. 日付元記載「9/30」. 実験者元記載「Kiz.」.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89546. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)α.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89547. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)β ＋16黒6（200）.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89548. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89549. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89550. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, ED., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89551. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)α ＋3赤0（20）.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89552. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)α.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89553. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
(備考)α.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89554. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)β -5赤12（120）.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89555. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89556. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, ED., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)β.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89557. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89558. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89559. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, ED, 100K., [1993年]9/30.
(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89560. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)α -22黒0（160）. 日付元記載「10/1」. 実験者元記載「Kiz.」.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89561. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.
(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)α.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
- 北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
- ニッケル 11193
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
- 銅 7814
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
- 金 6400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
- 銅合金 2962
- 銀 2835
- ステンレス鋼 2785
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
- 鉄 2479
- ニッケル合金 2219
- バナジウム 1948
- 鉄合金 1400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
- ムライト 247
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 225
- アルミニウム 129
- ゲルマニウム 85
- ノート 63
- 材料試験 63
- 記録ノート Notebooks 63
- 電子顕微鏡 63
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
- 資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
- 炭化珪素 54
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
- 珪素 6
- Collection 1
- アルミニウム合金 1
- 写真 1
- 原子炉材料 1
- 格子欠陥 1
- 結晶構造 1
- 金属材料 1
- 金属複合材料 1