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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7772. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7772
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7773. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7773
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7774. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7774
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7775. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, ED, 55cm., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7775
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7776. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7776
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7777. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7777
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7778. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7778
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7779. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7779
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7780. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 30K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7780
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7781. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 30K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7781
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7782. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, BF, 30K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7782
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7783. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, BF, 30K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7783
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7784. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7784
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)薄いところにはコンタミ.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7785. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7785
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小　2.5g.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7786. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7786
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中 2.8g.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7787. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7787
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7788. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7788
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7789. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7789
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7790. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7790
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7791. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7791
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中 3.0g.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7792. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7792
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大 3.3g.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7793. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7793
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7794. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, BF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7794
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)エッジ以外にゴミなし.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7795. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7795
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7796. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7796
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7797. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7797
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7798. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7798
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7799. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, BF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7799
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)ゴミ.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7800. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 73K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7800
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7801. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7801
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7802. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 73K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7802
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7803. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7803
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7804. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7804
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7805. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7805
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7806. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7806
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7807. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7807
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)隣　↓.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7808. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7808
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)　　↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7809. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7809
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7810. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7810
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7811. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7811
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7812. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7812
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7813. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7813
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7814. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7814
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7815. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7815
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7816. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7816
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7817. Cu-2Sn, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7817
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7818. Cu-2Sn, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7818
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7819. Cu-2Sn, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7819
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)大絞り.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7820. Cu-2Sn, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7820
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)↓.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7821. Cu-2Sn, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7821
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)小絞り.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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