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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97475. Si, BF, 50K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97475
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Heat treated Si　600℃x48h∔900℃x2h∔1100℃x24h（II）.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97476. Si, DF, 50K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97476
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97477. Si, BF, 50K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97477
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97478. Si, BF, 50K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97478
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97479. Si, BF, 30K?., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97479
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K?.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97480. Si, BF, 50K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97480
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97481. Si, DF, 5K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97481
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97482. Si, DF, 5K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97482
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97483. Si, DF, 5K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97483
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97484. Si, BF, 5K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97484
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97485. Si, BF, 50K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97485
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Heat treated Si　600℃x48h∔900℃x3h∔1100℃x24h（II）.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97486. Si, BF, 50K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97486
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97487. Si, BF, 50K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97487
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97488. Si, BF, 50K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97488
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97489. Si, BF, 50K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97489
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97490. Si, BF, 10K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97490
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97491. Si, BF, 10K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97491
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97492. Si, BF, 10K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97492
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97493. Si, BF, 10K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97493
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97494. Si, BF, 100K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97494
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Heat treated Si　600℃x48h∔900℃x4h∔1100℃x24h（II）.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97495. Si, BF, 100K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97495
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97496. Si., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97496
範囲と内容

(試料)Si.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97497. Si., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97497
範囲と内容

(試料)Si.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97498. Si., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97498
範囲と内容

(試料)Si.

(備考)板状あり.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97499. Si, 100K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97499
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97500. Si, BF, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97500
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)PLATE-＞OCT　Heat treated Si　600℃x48h∔900℃x4h∔1100℃x24h. 日付元記載「11/13」. 実験者元記載「サトウ」.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97501. Si, BF, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97501
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97502. Si, BF, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97502
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97503. Si, BF, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97503
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97504. Si, BF, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97504
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97505. Si, BF, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97505
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97506. Si, BF, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97506
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97507. Si, BF, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97507
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97508. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97508
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)Heat treated Si　600℃x48h∔900℃x4h∔1100℃x14h.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97509. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97509
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97510. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97510
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97511. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97511
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97512. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97512
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)すぐ隣.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97513. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97513
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97514. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97514
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97515. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97515
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97516. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97516
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97517. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97517
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97518. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97518
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97519. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97519
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97520. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97520
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97521. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97521
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97522. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97522
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97523. Si, 100K., [1994年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-97523
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)Heat treated Si　600℃x48h∔900℃x4h∔1100℃x8h.

日付: [1994年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97524. Si, 100K., [1994年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-97524
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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