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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100274. V, Heイオン, 300sec, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100274
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)うすい.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100275. V, Heイオン, 300sec, BF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100275
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)うすい.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100276. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100276
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100277. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100277
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100278. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100278
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)内部.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100279. V, Heイオン, 300sec, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100279
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dot.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100280. V, Heイオン, 300sec, BF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100280
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dot　試料きたない厚いところへ場所変えた.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100281. V, Heイオン, 300sec, BF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100281
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100282. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100282
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100283. V, Heイオン, 300sec, BF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100283
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100284. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100284
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100285. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100285
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100286. V, Heイオン, 300sec, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100286
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100287. V, Heイオン, 300sec, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100287
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100288. V, Heイオン, 300sec, BF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100288
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100289. V, Heイオン, 300sec, ED., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100289
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100290. V, Heイオン, 300sec, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100290
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)dot少し.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100291. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100291
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100292. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100292
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)別な場所.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100293. V, Heイオン, 300sec, BF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100293
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)別な場所.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100294. V, Heイオン, 300sec, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100294
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100295. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100295
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100296. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100296
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100297. V, Heイオン, 300sec, BF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100297
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ用.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100298. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100298
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)もう1枚（ダミー）.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100299. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100299
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)Before　e-　irr　Area A ④α　下6.3赤20（80）. 日付元記載「2/1」. 実験者元記載「Y. Ogasawara.」.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100300. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100300
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)④α.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100301. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, ED., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100301
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)④α.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100302. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100302
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)④α.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100303. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100303
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)④α.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100304. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100304
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)④β下4.5　13（200）.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100305. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100305
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)④β.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100306. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, ED., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100306
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)④β.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100307. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100307
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)④β.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100308. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100308
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)④β.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100309. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100309
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)③β.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100310. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100310
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)③β.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100311. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/1.

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資料番号: L-100311
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③β.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100312. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100312
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)③β.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100313. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 7.3K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100313
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.3K.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100314. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 7.3K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100314
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.3K.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100315. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 7.3K., [1995年]2/1.

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資料番号: L-100315
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.3K.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100316. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 7.3K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100316
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.3K.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100318. ？, RTNS-II, 290℃, S, BF, 20K., [1995年]2/2.

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資料番号: L-100318
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考) -8.5赤（0-6, 280）.日付元記載「2/2」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100319. ？, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1995年]2/2.

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資料番号: L-100319
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100320. ？, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1995年]2/2.

 アイテム
資料番号: L-100320
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100321. ？, RTNS-II, 290℃, S, ED., [1995年]2/2.

 アイテム
資料番号: L-100321
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100322. ？, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1995年]2/2.

 アイテム
資料番号: L-100322
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)11.5（6-12、0）.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100323. ？, RTNS-II, 290℃, S, ED., [1995年]2/2.

 アイテム
資料番号: L-100323
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100324. Ni, A957, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/2.

 アイテム
資料番号: L-100324
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A957. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　上5.0赤30（300）. 日付元記載「2/2」. 実験者元記載「Y. Ogasawara.」.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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