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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100480. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100480
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)日付元記載「2/5」.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100481. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100481
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)　＋Δ.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100482. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, BF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100482
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100483. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100483
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100484. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100484
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別視野.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100485. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100485
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100486. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100486
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100487. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, BF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100487
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100488. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100488
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100489. Ni, e-irr, DF, 37K., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100489
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K.

(備考)α　＋15.5赤2（320）　area　A. 日付元記載「2月5日」. 実験者元記載「桐谷 松本」.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100490. Ni, e-irr, DF, 37K., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100490
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K.

(備考)α　area　A.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100491. Ni, e-irr, ED., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100491
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100492. Ni, e-irr, ED., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100492
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100493. Ni, e-irr, DF., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100493
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　＋11.8黒5（0）　Area　A.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100494. Ni, e-irr, ED., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100494
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100495. Ni, e-irr, DF., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100495
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α＋15.5赤4（140）　area　A.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100496. Ni, e-irr, ED., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100496
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100497. Ni, e-irr, DF., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100497
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　area　B.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100498. Ni, e-irr, DF., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100498
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　＋13.0黒5.5（240）　area　B　.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100499. Ni, e-irr, DF., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100499
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　area　B.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100500. Ni, e-irr, ED., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100500
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100501. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100501
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)日付元記載「'94 2月5日」（「'95 2月5日」の誤りであると考えられる）.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100502. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100502
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100503. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100503
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100504. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100504
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別視野.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100505. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100505
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100506. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, BF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100506
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100507. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100507
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100508. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100508
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別視野.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100509. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100509
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100510. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100510
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100511. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, BF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100511
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100512. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100512
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100513. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100513
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別視野.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100514. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100514
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100515. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100515
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100516. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, BF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100516
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100517. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100517
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100518. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 50K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100518
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100519. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100519
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別視野.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100520. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, BF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100520
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100521. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 50K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100521
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100522. Ag, R601, RTNS-IIlast, RT, SS, DF., [1995]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100522
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R601. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)日付元記載「2月5日」.

日付: [1995]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100523. Ag, R601, RTNS-IIlast, RT, SS, DF., [1995]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100523
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R601. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100524. Ag, R601, RTNS-IIlast, RT, SS, DF., [1995]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100524
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R601. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100525. Ag, R601, RTNS-IIlast, RT, SS, BF., [1995]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100525
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R601. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1995]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100526. Ag, R601, RTNS-IIlast, RT, SS, DF., [1995]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100526
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R601. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100527. Ag, R601, RTNS-IIlast, RT, SS, DF., [1995]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100527
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R601. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)別視野.

日付: [1995]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100528. Ag, R601, RTNS-IIlast, RT, SS, DF., [1995]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100528
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R601. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100529. Ag, R601, RTNS-IIlast, RT, SS, DF., [1995]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100529
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R601. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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