京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野
63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101690. JPCAM, DF, 100K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)11:30 327mA 3.27mV(200℃).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101691. JPCAM, 150K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)150K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101692. JPCAM, DF, 100K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)12:00 348mA 3.98mV(~250℃).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101693. JPCAM, DF, 150K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101694. JPCAM, 100K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)100K.
(備考)12:30 370mA 4.84mV(~300℃).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101695. JPCAM, 150K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)150K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101696. JPCAM, DF, 100K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)13:05 390mm 6.3mV(~350℃).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101697. JPCAM, 150K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)150K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101698. JPCAM, DF, 100K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)12:43 416mA 6.792mV(~400℃).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101699. JPCAM, 150K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)150K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101700. JPCAM, DF, 100K., [1995年4月22日.]
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)14:13 440mA 7.684mV(~450℃).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101701. JPCAM, 150K., [1995年4月22日.]
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)150K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101702. JPCAM, DF, 100K., [1995年4月22日.]
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)14:40 470mA 8.68mV(~500℃).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101703. JPCAM, 150K., [1995年4月22日.]
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)150K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101704. JPCAM, DF, 100K., [1995年4月22日.]
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)15:20 480mA 9.61mV(~550℃).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101705. JPCAM, 150K., [1995年4月22日.]
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)150K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101706. JPCAM, ED., [1995年4月22日.]
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)15:55 Heater off.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101707. JPCAM, BF, 100K., [1995年4月22日.]
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101708. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101709. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101710. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101711. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101712. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101713. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101714. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101715. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101716. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101717. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101718. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101719. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101720. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101721. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101722. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101723. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101724. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101725. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101726. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, BF, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101727. ?, e-irr., [1995年4月22日.]
(試料)?. (照射条件)e-irr.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101728. ?, e-irr, BF, 50K., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)e-irr Before Heavy ion for Stereo Obs.調整 α(-1.0,0.00). 日付元記載「APRIL 25」. 実験者元記載「RS」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101729. ?, e-irr, 50K., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)50K.
(備考)5分 α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101730. ?, e-irr., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr.
(備考)3分 α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101731. ?, e-irr., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr.
(備考)3分厚focus α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101732. ?, e-irr., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr.
(備考)1.5分 α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101733. ?, e-irr., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr.
(備考)1.5分厚focus α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101734. ?, e-irr., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr.
(備考)2分 α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101735. ?, e-irr, ED., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101736. ?, e-irr, BF, 50K., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)2分 β(-5.5、6.240赤).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101737. ?, e-irr., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr.
(備考)1.5分 β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101738. ?, e-irr., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr.
(備考)3分 β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101739. ?, e-irr., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr.
(備考)3分厚focus β.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
- ニッケル 11193
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
- 銅 7814
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
- 金 6400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
- 銅合金 2962
- 銀 2835
- ステンレス鋼 2785
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
- 鉄 2479
- ニッケル合金 2219
- バナジウム 1948
- 鉄合金 1400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
- ムライト 247
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 225
- アルミニウム 129
- ゲルマニウム 85
- ノート 63
- 材料試験 63
- 記録ノート Notebooks 63
- 電子顕微鏡 63
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 55
- 炭化珪素 54
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
- 珪素 6
- Collection 1
- アルミニウム合金 1
- 写真 1
- 原子炉材料 1
- 格子欠陥 1
- 結晶構造 1
- 金属材料 1
- 金属複合材料 1