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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102415. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 150K., [1995年]6/24.

 アイテム
資料番号: L-102415
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝7.

(備考)G.

日付: [1995年]6/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102416. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 100K., [1995年]6/24.

 アイテム
資料番号: L-102416
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝7.

(備考)G.

日付: [1995年]6/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102417. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 150K., [1995年]6/24.

 アイテム
資料番号: L-102417
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝7.

(備考)GB.

日付: [1995年]6/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102418. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 100K., [1995年]6/24.

 アイテム
資料番号: L-102418
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝7.

(備考)GB.

日付: [1995年]6/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102431. Ni, Heイオン照射, 200nA, BF, 100K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102431
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ. 日付元記載「6/26」. 実験者元記載「K.M」.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102432. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102432
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102433. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102433
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102434. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102434
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102435. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102435
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102436. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102436
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102437. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102437
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102438. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102438
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102439. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102439
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102440. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102440
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102441. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102441
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102442. Ni, Heイオン照射, 200nA., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102442
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA.

(備考)失敗.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102443. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, DF, 100K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102443
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)実験者元記載「M.Iseki」.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102444. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, DF, 50K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102444
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102445. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, BF, 100K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102445
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102446. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, BF, 50K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102446
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102447. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, BF, 10K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102447
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)滑り線あり.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102448. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, BF, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102448
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)つづき（110）面.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102449. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, DF, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102449
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102450. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, DF, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102450
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102451. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, DF, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102451
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102452. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, DF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102452
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102453. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, DF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102453
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102454. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, DF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102454
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)内部.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102455. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, BF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102455
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102456. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, BF, 20K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102456
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)（100）面　厚さ測定用　ごみの無い端.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102457. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, DF, 20K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102457
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)面　厚さ測定用　ごみの無い端　窪みあり.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102458. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, BF, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102458
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102459. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, DF, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102459
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102460. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, DF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102460
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)外.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102461. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, BF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102461
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)外.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102462. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, DF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102462
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)内.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102463. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, BF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102463
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)内.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102464. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, DF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102464
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別の場所.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102465. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, DF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102465
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別の場所.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102466. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, BF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102466
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102467. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, ED., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102467
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)？.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102468. Au, Heイオン1MeV照射, 200nA　300s, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102468
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン1MeV照射. (照射量)200nA　300s. (条件・倍率等)100K.

(備考)実験者元記載「M.I」.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102469. Au, Heイオン1MeV照射, 200nA　300s, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102469
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン1MeV照射. (照射量)200nA　300s. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102470. Au, Heイオン1MeV照射, 200nA　300s, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102470
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン1MeV照射. (照射量)200nA　300s. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102471. Au, Heイオン1MeV照射, 200nA　300s, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102471
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン1MeV照射. (照射量)200nA　300s. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102472. Au, Heイオン1MeV照射, 200nA　300s, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102472
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン1MeV照射. (照射量)200nA　300s. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102473. Au, Heイオン1MeV照射, 200nA　300s, 30K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102473
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン1MeV照射. (照射量)200nA　300s. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102474. Au, Heイオン1MeV照射, 200nA　300s, DF, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102474
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン1MeV照射. (照射量)200nA　300s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102475. Au, Heイオン1MeV照射, 200nA　300s, BF, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102475
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン1MeV照射. (照射量)200nA　300s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102476. Au, Heイオン1MeV照射, 200nA　300s, DF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102476
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン1MeV照射. (照射量)200nA　300s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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