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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103185. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

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資料番号: L-103185
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103186. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103186
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)R19.5　3°100/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103187. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103187
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103188. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103188
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103189. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103189
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103190. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103190
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103191. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103191
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103192. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103192
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103193. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103193
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103194. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103194
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103195. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103195
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103196. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103196
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)R11.5　6°120/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103197. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103197
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103198. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103198
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103199. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103199
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103200. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103200
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103201. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103201
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)R3.5　3°20/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103202. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103202
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103203. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103203
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103204. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103204
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103205. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103205
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103206. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103206
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103223. Ni, Heイオン照射, 300℃., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103223
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃.

(備考)（340、-593）0.10中央側への欠陥がなくなる. 日付元記載「10/13」.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103224. Ni, Heイオン照射, 300℃., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103224
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃.

(備考)（400、-710）0.10外から欠陥があるところまで.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103225. Ni, Heイオン照射, 300℃., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103225
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃.

(備考)（-132、423）0.10反対の外から　”.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103226. Ni, Heイオン照射, 300℃., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103226
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃.

(備考)（-101,230）0.10中央からの　”.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103227. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103227
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)R33.5　B0＋260/360ｘ3　edge.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103228. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103228
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103229. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103229
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103230. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103230
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)さらに.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103231. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103231
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103232. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103232
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103233. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103233
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)さらにおく.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103234. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103234
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103235. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103235
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103236. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

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資料番号: L-103236
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103237. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103237
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103238. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, ED., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103238
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103239. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103239
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)R26.0　B0°＋100/360ｘ3　　e1.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103240. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

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資料番号: L-103240
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e2　A.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103241. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103241
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e3.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103242. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103242
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e1　B.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103243. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103243
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e2　.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103244. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103244
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e1　.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103245. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103245
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e2　A.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103246. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103246
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e3.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103247. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103247
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e1.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103248. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103248
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e2　B.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103249. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 50K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103249
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103250. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 50K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103250
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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