京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野
63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105762. V, Heイオン照射+e-irr., [1996年]4/5.
(試料)V. (照射条件)Heイオン照射+e-irr.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105763. V, Heイオン照射+e-irr., [1996年]4/5.
(試料)V. (照射条件)Heイオン照射+e-irr.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105764. Ni., [1996年]4月10日.
(試料)Ni.
(備考)空. 日付元記載「4月10日」. 実験者元記載「たけみ」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105765. Ni, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.
(備考)area A-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105766. Ni, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.
(備考)area A-2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105767. Ni, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.
(備考)area A-3.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105768. Ni, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105769. Ni, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0 .
(備考)A-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105770. Ni, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.
(備考)A-2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105771. Ni, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.
(備考)A-3.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105772. Ni, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.
(備考)B-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105773. Ni, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.
(備考)B-2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105774. Ni, ED., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105775. Ni, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.
(備考)B-3.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105776. Ni, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.
(備考)B-4.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105777. Ni, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)B-4.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105778. Ni, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.
(備考)B-3.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105779. Ni, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)B-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105780. Ni, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.
(備考)B-2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105781. Ni, BF, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)B-4.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105782. Ni, 50K., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.
(備考)B-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105783. Ni, ED., [1996年]4月10日.
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105784. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, BF, 50K., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
(備考)G.B. after e-iir β同じ. 日付元記載「96/4/11」. 実験者元記載「小笠原」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105785. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, BF, 50K., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
(備考)β 同じ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105786. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, BF, 50K., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
(備考)β 同じ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105787. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, BF, 50K., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
(備考)β .
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105788. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, BF, 50K., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
(備考)β .
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105789. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, BF, 100K., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=2.5.
(備考)α上19黒30 n=5.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105790. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, BF, 100K., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α n=4.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105791. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, BF, 100K., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α n=2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105792. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, ED., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α .
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105793. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, DF, 100K., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α n=-5.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105794. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, DF, 100K., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α n=-4.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105795. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, DF, 100K., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α n=-2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105796. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, DF, 100K., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)β上14黒24 n=5.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105797. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, DF, 100K., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)β n=4.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105798. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, DF, 100K., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)β n=2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105799. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, DF, 100K., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)β n=-2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105800. Ni, RTNS-II+e-irr, 290℃, DF, 100K., [19]96/4/11.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II+e-irr. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)β .
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105801. V, Heイオン照射., [1996年]4/17.
(試料)V. (照射条件)Heイオン照射.
(備考)Area D n-6強. 日付元記載「4/17」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105802. V, Heイオン照射., [1996年]4/17.
(試料)V. (照射条件)Heイオン照射.
(備考)Area D n-6強.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105803. V, Heイオン照射., [1996年]4/17.
(試料)V. (照射条件)Heイオン照射.
(備考)Area D n-6強.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105804. V, Cuイオン照射., [1996年]4/17.
(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射.
(備考)Xゴミのっかている.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105805. Ni., [1996年]4月27日.
(試料)Ni.
(備考)18 4月17日照射分 空. 日付元記載「4月27日」. 実験者元記載「たけみ」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105806. Ni, DF, 50K., [1996年]4月27日.
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)Area A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105807. Ni, 50K., [1996年]4月27日.
(試料)Ni. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)Area A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105808. Ni, DF, 50K., [1996年]4月27日.
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)Area A とり直し.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105809. Ni, ED., [1996年]4月27日.
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)Area A まちがえた.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105810. Ni, ED., [1996年]4月27日.
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)Area A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105811. Ni, DF, 50K., [1996年]4月27日.
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)Area B.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
- ニッケル 11193
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
- 銅 7814
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
- 金 6400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
- 銅合金 2962
- 銀 2835
- ステンレス鋼 2785
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
- 鉄 2479
- ニッケル合金 2219
- バナジウム 1948
- 鉄合金 1400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
- ムライト 247
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 225
- アルミニウム 129
- ゲルマニウム 85
- ノート 63
- 材料試験 63
- 記録ノート Notebooks 63
- 電子顕微鏡 63
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 55
- 炭化珪素 54
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
- 珪素 6
- Collection 1
- アルミニウム合金 1
- 写真 1
- 原子炉材料 1
- 格子欠陥 1
- 結晶構造 1
- 金属材料 1
- 金属複合材料 1