京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野
63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106239. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K.
(備考)B n=3.5x2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106240. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106241. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106242. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K.
(備考)C n=3.5x2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106243. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106244. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K.
(備考)D n=3.5x2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106245. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K.
(備考)D n=3.5x2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106246. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106247. A-Si(43hr), ED., [1996年]10/11.
(試料)A-Si(43hr). (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)2sec. 日付元記載「10/11」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106248. A-Si(43hr), ED., [1996年]10/11.
(試料)A-Si(43hr). (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)4sec.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106249. A-Si(43hr), 50K., [1996年]10/11.
(試料)A-Si(43hr). (条件・倍率等)50K.
(備考)日付元記載「10/11」. 実験者元記載「小林 由美子」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106250. A-Si(43hr), 50K., [1996年]10/11.
(試料)A-Si(43hr). (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106251. A-Si(6hr), ED., [1996年]10/11.
(試料)A-Si(6hr). (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)2s.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106252. A-Si(6hr), ED., [1996年]10/11.
(試料)A-Si(6hr). (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)4s.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106253. A-Si(6hr), 50K., [1996年]10/11.
(試料)A-Si(6hr). (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106254. A-Si(6hr), 50K., [1996年]10/11.
(試料)A-Si(6hr). (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106255. Ni, e-irr., [1996年]10月15日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr.
(備考)空. 日付元記載「10月15日」. 実験者元記載「まつもと たけみ」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106256. Ni, e-irr, DF, 73K., [1996年]10月15日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.
(備考)n=2.5 area A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106257. Ni, e-irr, BF, 73K., [1996年]10月15日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)73K.
(備考)n=2.5 area A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106258. Ni, e-irr, ED., [1996年]10月15日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106259. Ni, e-irr, BF, 73K., [1996年]10月15日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)73K.
(備考)n=2.5 area A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106260. Ni, e-irr, DF, 73K., [1996年]10月15日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.
(備考)n=2.5 area A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106261. Ni, e-irr, DF, 73K., [1996年]10月15日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.
(備考)n=2.5 area A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106262. Ni, e-irr, DF, 73K., [1996年]10月15日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.
(備考)n=2.5 area A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106263. Ni, e-irr, DF, 73K., [1996年]10月15日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.
(備考)n=2.5 area A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106264. Ni, e-irr, BF, 73K., [1996年]10月15日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)73K.
(備考)n=2.5 area A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106265. Ni, e-irr, ED., [1996年]10月15日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106266. Ni, e-irr, DF, 100K., [1996年]10月15日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)n=2.5 area A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106267. Ni, e-irr, BF, 100K., [1996年]10月15日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)n=2.5 area A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106268. Ni, e-irr, ED., [1996年]10月15日.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)area A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106269. A-Si, ED., [1996年10月15日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)A-Si(non-X).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106270. A-Si, ED., [1996年10月15日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106271. A-Si, ED., [1996年10月15日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106272. A-Si, ED., [1996年10月15日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)A-Si(43).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106273. A-Si, ED., [1996年10月15日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106274. A-Si, ED., [1996年10月15日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106275. A-Si, ED., [1996年10月15日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106276. A-Si, 50K., [1996年10月15日.]
(試料)A-Si. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106277. A-Si, ED., [1996年10月15日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106278. A-Si, ED., [1996年10月15日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106279. A-Si, 50K., [1996年10月15日.]
(試料)A-Si. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106280. A-Si, 50K., [1996年10月15日.]
(試料)A-Si. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106281. A-Si, 50K., [1996年10月15日.]
(試料)A-Si. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106282. ?, 50K., [1996年]10月21日.
(試料)?. (条件・倍率等)50K.
(備考)日付元記載「10月21日」. 実験者元記載「松本 たけみ」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106283. ?., [1996年]10月21日.
(試料)?. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)10月20日照射分 空.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106284. ?, 73K., [1996年]10月21日.
(試料)?. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)K n=4.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106285. ?, 73K., [1996年]10月21日.
(試料)?. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)K n=4.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106286. ?, 73K., [1996年]10月21日.
(試料)?. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)K n=4.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106287. ?, 100K., [1996年]10月21日.
(試料)?. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)K n=4.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106288. ?, 100K., [1996年]10月21日.
(試料)?. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)K n=4.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
- ニッケル 11193
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
- 銅 7814
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
- 金 6400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
- 銅合金 2962
- 銀 2835
- ステンレス鋼 2785
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
- 鉄 2479
- ニッケル合金 2219
- バナジウム 1948
- 鉄合金 1400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
- ムライト 247
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 225
- アルミニウム 129
- ゲルマニウム 85
- ノート 63
- 材料試験 63
- 記録ノート Notebooks 63
- 電子顕微鏡 63
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 55
- 炭化珪素 54
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
- 珪素 6
- Collection 1
- アルミニウム合金 1
- 写真 1
- 原子炉材料 1
- 格子欠陥 1
- 結晶構造 1
- 金属材料 1
- 金属複合材料 1