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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7346. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7346
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)just.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7347. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7347
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7348. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7348
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)over fine 大3つ.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7349. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7349
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)under　fine　小3つ.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7350. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7350
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7351. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7351
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)s＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7352. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7352
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7353. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 52K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7353
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7354. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7354
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)s＞＞＞0 .

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7355. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 31K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7355
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7356. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7356
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7357. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7357
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7358. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7358
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7359. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7359
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7360. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7360
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7361. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7361
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7362., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7362
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7363., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7363
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7364. SUS316, A426阿部, RTNS-II, 300K, WW, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7364
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A426阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7365. SUS316, A426阿部, RTNS-II, 300K, WW, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7365
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A426阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7366. SUS316, A426阿部, RTNS-II, 300K, WW, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7366
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A426阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7367. SUS316, A426阿部, RTNS-II, 300K, WW, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7367
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A426阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7368., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7368
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7369. SUS316, A426阿部, RTNS-II, 300K, WW, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7369
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A426阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7370. SUS316, A426阿部, RTNS-II, 300K, WW, ED, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7370
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A426阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7371. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7371
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7372. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7372
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7373. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7373
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7374. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7374
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7375. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7375
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7376. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7376
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7377. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7377
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7378. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7378
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7379. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7379
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7380. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7380
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7381. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7381
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7382. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7382
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7383. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7383
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7384. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7384
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7385. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7385
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7386. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7386
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7387. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7387
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7388. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7388
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7389. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7389
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7390. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7390
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7391. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7391
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7392. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7392
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7393. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7393
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7394. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7394
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7395. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7395
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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