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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7396. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7396
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7397. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7397
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7398. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7398
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7399. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7399
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7400. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7400
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7401. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7401
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7402. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7402
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7403. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7403
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7404. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7404
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7405. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7405
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7406. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7406
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7407. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7407
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7408. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7408
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7409. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7409
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7410. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7410
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7411. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7411
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7412. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7412
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7413. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7413
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7414. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7414
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7415. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7415
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7416. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7416
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7417. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7417
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7418. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7418
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7419. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7419
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7420. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7420
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7421. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7421
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7422. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7422
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7423. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7423
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7424. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7424
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7425. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7425
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7426. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7426
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7427. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7427
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7428. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7428
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7429. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7429
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7430. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7430
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7431. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7431
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7432. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7432
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7433. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7433
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7434. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7434
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7435. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7435
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

(備考)Just.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7436. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7436
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

(備考)over fine　大2つ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7437. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7437
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)under　fine　小2つ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7438. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7438
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7439. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7439
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7440. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7440
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7441. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7441
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7442. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7442
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7443. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7443
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

(備考)Just.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7444. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7444
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

(備考)over fine　大2つ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7445. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7445
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

(備考)under　fine　小2つ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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