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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7446. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7446
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7447. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7447
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ボケ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7448. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7448
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7449. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7449
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7450. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7450
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7451. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7451
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)日付元記載「6/14」.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7452. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7452
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7453. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7453
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7454. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7454
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7455. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7455
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7456. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7456
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7457. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7457
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7458. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7458
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7459. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7459
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7460. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7460
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)over fine　大2つ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7461. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7461
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)under　fine　小2つ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7462. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7462
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7463. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7463
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7464. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7464
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7465. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7465
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7466. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7466
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7467. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 210K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7467
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7468. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7468
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上と少しずれる.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7469. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7469
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)Fringe.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7470. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 210K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7470
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7471. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7471
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7472. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7472
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7473. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7473
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7474. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7474
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7475. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7475
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7476. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7476
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7477. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7477
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7478. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7478
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7479. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7479
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7480. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7480
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7481. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7481
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7482. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7482
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7483. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7483
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7484. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7484
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7485. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7485
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7486. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7486
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7487. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7487
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)TW　Bulk　TEM内焼鈍.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7488. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7488
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7489. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7489
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7490. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7490
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7491. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7491
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7492. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7492
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7493. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7493
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7494. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7494
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)RT A.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7495. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7495
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)RT A.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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