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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10380. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, BF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10380
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Deformed at Liq.N2 Temp by bending.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10381. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, BF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10381
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10382. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, BF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10382
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10383. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, BF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10383
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10384. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, BF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10384
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10385. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10385
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10386. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, BF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10386
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10387. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, BF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10387
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10388. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, BF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10388
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10389. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10389
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10390. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10390
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　-5.0,8（260）C3 .

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10391. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10391
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10392. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10392
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10393. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10393
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10394. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10394
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10395. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10395
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10396. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, BF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10396
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10397. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, BF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10397
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10398. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10398
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10399. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10399
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10400. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10400
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10401. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10401
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10402. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10402
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10403. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10403
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10404. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10404
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10405. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10405
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10406. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10406
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10407. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10407
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　A　　-15、6（20）C3　.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10408. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10408
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10409. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10409
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10410. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10410
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10411. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10411
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10412. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10412
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10413. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10413
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10414. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10414
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10415. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10415
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10416. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10416
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10417. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10417
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10418. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10418
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　A　Disl.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10419. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10419
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Bulk yoshiie polish.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10420. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10420
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10421. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10421
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10422. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10422
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10423. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10423
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)失敗.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10424. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10424
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10425. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10425
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10426. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10426
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10427. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10427
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10428. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10428
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10429. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10429
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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