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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18635. RTNS-II., 1986. 2. 9.

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資料番号: O-18635
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18636. RTNS-II., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18636
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18637. RTNS-II., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18637
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18638. RTNS-II., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18638
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18639. RTNS-II., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18639
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18640. RTNS-II., 1986. 2. 9.

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資料番号: O-18640
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18641. RTNS-II., 1986. 2. 9.

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資料番号: O-18641
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18642. RTNS-II., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18642
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18643. RTNS-II., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18643
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18644. RTNS-II., 1986. 2. 9.

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資料番号: O-18644
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18645. RTNS-II., 1986. 2. 9.

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資料番号: O-18645
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18646. RTNS-II., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18646
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18647. RTNS-II., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18647
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18648. RTNS-II., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18648
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18649. RTNS-II., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18649
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18650. RTNS-II., 1986. 2. 9.

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資料番号: O-18650
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18651. RTNS-II., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18651
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18652. RTNS-II., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18652
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18653. RTNS-II., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18653
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18654. RTNS-II., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18654
範囲と内容

(照射条件)RTNS-II.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18655. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18655
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18656. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18656
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18657. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18657
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18658. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18658
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18659. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18659
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18660. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18660
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18661. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18661
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18662. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18662
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18663. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18663
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)D.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18664. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18664
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18665. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18665
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18666. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 42K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18666
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18667. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18667
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18668. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18668
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)just.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18669. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18669
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)fine大＋1　over.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18670. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18670
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)fine大-2　under.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18671. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18671
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)fringe.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18672. Ni-2Si, J738, RTNS-II, 290℃, SS, ED., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18672
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)J738. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18673. Ni-0.05Si, J752, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18673
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)J752. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18674. Ni-0.05Si, J752, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18674
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)J752. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18675. Ni-0.05Si, J752, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18675
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)J752. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)厚さ勾配はだいたい同じ.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18676. Ni-0.05Si, J752, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

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資料番号: O-18676
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)J752. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)厚さ勾配はだいたい同じ.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18677. Ni-0.05Si, J752, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18677
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)J752. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)厚さ勾配はだいたい同じ.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18678. Ni-0.05Si, J752, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18678
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)J752. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)外し方たりない.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18679. Ni-0.05Si, J752, RTNS-II, 290℃, SS, ED., 1986. 2. 9.

 アイテム
資料番号: O-18679
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)J752. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 2. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18680. Ni-0.05Si, J752, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年2月9日.]

 アイテム
資料番号: O-18680
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)J752. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年2月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-18681. Ni-0.05Si, J752, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年2月9日.]

 アイテム
資料番号: O-18681
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)J752. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年2月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19105. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., 1986. 2. 12.

 アイテム
資料番号: O-19105
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　-2.2、7（100）黒. 日付元記載「1986. 2. 12」.

日付: 1986. 2. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19106. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., 1986. 2. 12.

 アイテム
資料番号: O-19106
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)　　　α.

日付: 1986. 2. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19107. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF., 1986. 2. 12.

 アイテム
資料番号: O-19107
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　　　α.

日付: 1986. 2. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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