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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28111. Ni, B269, 200℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28111
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28112. Ni, B269, 200℃, SSS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28112
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

(備考)1 γ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28113. Ni, B269, 200℃, SSS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28113
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

(備考)2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28114. Ni, B269, 200℃, SSS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28114
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

(備考)3.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28115. Ni, B269, 200℃, SSS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28115
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

(備考)4.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28116. Ni, B269, 200℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28116
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28117. Ni, B269, 200℃, SSS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28117
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28118. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28118
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28119. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28119
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28120. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28120
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28121. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28121
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28122. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28122
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28123. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28123
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28124. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28124
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28125. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28125
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28126. SUS, B869, 200℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28126
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28127. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28127
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28128. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28129. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28130. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28131. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28132. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28132
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28133. Ni, B270, 450℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28133
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28134. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28134
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28135. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28135
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)他grain.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28136. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28136
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)①　α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28137. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28137
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)②　α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28138. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28138
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)③　α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28139. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28139
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)④　α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28140. Ni, B270, 450℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28140
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28141. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28141
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28142. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28142
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)①　β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28143. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28143
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)②　β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28144. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28144
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)③　β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28145. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28145
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)④　β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28146. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28146
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28147. Ni, B270, 450℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28147
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28148. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28148
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)ｓ＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28149. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28149
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)ｓ＝0.

(備考)③の所.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28150. Ni, B262, 450℃, S, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28150
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28151. Ni, B262, 450℃, S, DF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28151
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)contami 多い.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28152. Ni, B262, 450℃, S, DF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28152
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28153. Ni, B262, 450℃, S, DF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28153
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28154. Ni, B262, 450℃, S, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28154
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28155. Ni, B262, 450℃, S., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28155
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射温度)450℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28156. Ni-2Si, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28156
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28157. Ni-2Si, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28157
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)contami　　多い.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28158. Ni-2Si, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28158
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28159. Ni-2Si, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28159
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28160. Ni-2Si, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28160
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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