京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野
63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29013. Ni, Kohyama, RT, S, BF, 52K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29014. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 52K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29015. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 52K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29016. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 52K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29017. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 100K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29018. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 100K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29019. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 100K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29020. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 100K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)over 2step コンタミ像.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29021. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 100K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)under 2step.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29022. Ni, Kohyama, RT, S, ED., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29023. Ni, Kohyama, RT, S, ED., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29024. Ni, Kohyama, RT, S, ED., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)of fresh area.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29025. Ni, Kohyama, RT, S, ED., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)after spot Ill. of 10min.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29026. Ni, Kohyama, RT, S, DF., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29027. Ni, Kohyama, RT, S, DF., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29028. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29029. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)A.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29030. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)B.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29031. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29032. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29033. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29034. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.
(備考)A.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29035. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29036. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
(備考)α.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29037. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)α.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29038. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29039. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)α.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29040. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29041. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)α.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29042. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29043. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)α.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29044. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29045. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29046. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0 ミス.
(備考)β.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29047. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29048. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)β.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29049. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29050. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29051. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29052. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29053. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)↓ s increase.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29054. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29055. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29056. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29057. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29058. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)δ 前面とG逆.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29059. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)δ.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29060. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)δ.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29061. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)↓ s increase.
(備考)δ.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29062. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)δ.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
- 北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
- ニッケル 11193
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
- 銅 7814
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
- 金 6400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
- 銅合金 2962
- 銀 2835
- ステンレス鋼 2785
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
- 鉄 2479
- ニッケル合金 2219
- バナジウム 1948
- 鉄合金 1400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
- ムライト 247
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 225
- アルミニウム 129
- ゲルマニウム 85
- ノート 63
- 材料試験 63
- 記録ノート Notebooks 63
- 電子顕微鏡 63
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
- 資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
- 炭化珪素 54
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
- 珪素 6
- Collection 1
- アルミニウム合金 1
- 写真 1
- 原子炉材料 1
- 格子欠陥 1
- 結晶構造 1
- 金属材料 1
- 金属複合材料 1