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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29615. Cu-2Ni, G742, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

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資料番号: O-29615
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29616. Cu-2Ni, G742, RTNS-II, 200℃, M, DF, 16K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29616
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29617. Cu-2Ni, G742, RTNS-II, 200℃, M, DF, 16K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

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資料番号: O-29617
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29618. Cu-2Ni, G742, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

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資料番号: O-29618
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29619. Cu-2Ni, G742, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

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資料番号: O-29619
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29620. Cu-2Ni, G742, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

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資料番号: O-29620
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29621. Cu-2Ni, G742, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29621
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29622. Cu-2Ni, G742, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29622
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29623. Cu-2Ni, G742, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29623
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29624. Cu-2Ni, G742, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29624
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29625. Cu-2Ni, G742, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29625
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29626. Cu-2Ni, G742, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29626
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29627. Cu-2Ni, G742, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29627
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29628. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29628
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　　　st.1　-1.5赤9（320）.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29629. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29629
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29630. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29630
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29631. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29631
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29632. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29632
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29633. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29633
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29634. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 31K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29634
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)C.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29635. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29635
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A'.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29636. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29636
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29637. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29637
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中-大.

(備考)A’.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29638. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29638
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中-大.

(備考)B　場所違う.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29639. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29639
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29640. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29640
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A'.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29641. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29641
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中-大.

(備考)B　29638の撮り直し.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29642. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29642
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29643. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29643
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A'.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29644. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29644
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29645. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29645
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A'　　st.2　＋1.0　赤2（300）.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29646. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29646
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29647. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29647
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中-大.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29648. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29648
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中-大.

(備考)A'.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29649. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29649
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中-大.

(備考)A'.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29650. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29650
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)sすこし大へ.

(備考)A'.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29651. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29651
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29652. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29652
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s少し大.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29653. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29653
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29654. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, BF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29654
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)全.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29655. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29655
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　　st.1　-15　黒10（200）.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29656. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29656
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29657. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29657
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)全.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29658. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, BF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29658
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)全.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29659. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29659
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29660. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, BF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29660
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29661. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29661
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29662. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29662
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29663. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29663
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29664. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29664
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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