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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32254. Cu, A863, RTNS-II, 200℃, WW, ED., 1968. 10. 9.

 アイテム
資料番号: O-32254
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A863. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1968. 10. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32255. Cu, A863, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., 1968. 10. 9.

 アイテム
資料番号: O-32255
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A863. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1968. 10. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32256. Cu, A863, RTNS-II, 200℃, WW, ED., 1968. 10. 9.

 アイテム
資料番号: O-32256
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A863. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1968. 10. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32257. Cu-2Si, A553, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32257
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A553. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32258. Cu-2Si, A553, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32258
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A553. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32259. Cu-2Si, A553, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32259
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A553. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32260. Cu-2Si, A553, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32260
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A553. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32261. Cu-2Si, A553, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32261
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A553. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32262. Cu-2Si, A553, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32262
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A553. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32263. Cu-2Si, A553, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32263
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A553. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32264. Cu-2Si, A553, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32264
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A553. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32265. Cu-2Si, A553, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32265
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A553. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32266. Cu-2Si, A553, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32266
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A553. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32267. Cu-2Si, A553, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32267
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A553. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32268. Cu-2Si, A553, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32268
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A553. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32269. Cu-2Si, A553, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32269
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A553. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32270. Cu-2Ni, G733, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32270
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G733. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32271. Cu-2Ni, G733, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32271
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G733. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32272. Cu-2Ni, G733, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32272
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G733. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32273. Cu-2Ni, G733, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32273
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G733. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32274. Cu-2Ni, G733, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32274
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G733. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32275. Cu-2Ni, G733, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32275
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G733. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32276. Cu-2Ni, G733, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32276
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G733. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32277. Cu-2Ni, G733, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32277
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G733. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)前より少しS小さい.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32278. Cu-2Ni, G733, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32278
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G733. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32279. Cu-2Ni, G733, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32279
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G733. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32280. Cu-2Ni, G733, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32280
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G733. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32281. Cu-2Ni, G733, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32281
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G733. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32282. Cu-2Ni, G733, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32282
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G733. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32283. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 31K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32283
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32284. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32284
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32285. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32285
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32286. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32286
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32287. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32287
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32288. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32288
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32289. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32289
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32290. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32290
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32291. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32291
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32292. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32292
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32293. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32293
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32294. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32294
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32295. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32295
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32296. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32296
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32297. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32297
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32298. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32298
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32299. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32299
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32300. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32300
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32301. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32301
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32302. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32302
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32303. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32303
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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