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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33205. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33205
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　　0、　黒0～3＋（300）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33206. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33206
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33207. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33207
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33208. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33208
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33209. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33209
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33210. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33210
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33211. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33211
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33212. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33212
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33213. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33213
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33214. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33214
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33215. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33215
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　-8　赤0～3（40）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33216. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33216
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33217. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33217
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33218. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33218
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33219. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33219
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33220. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33220
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33221. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33221
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33222. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33222
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β　0、黒12～15（100）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33223. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33223
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33224. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33224
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33225. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33225
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33226. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33226
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33227. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33227
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33228. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33228
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33229. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33229
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33230. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33230
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33231. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33231
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33232. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33232
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33233. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33233
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33234. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33234
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33235. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33235
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33236. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 31K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33236
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33237. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33237
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33238. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33238
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33239. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33239
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33240. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33240
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33241. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33241
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33242. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33242
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33243. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 160K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33243
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33244. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33244
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33245. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33245
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33246. Au, A442, RTNS-II, 450℃, M, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33246
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A442. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下6.5、赤4（160）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33247. Au, A442, RTNS-II, 450℃, M., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33247
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A442. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33248. Au, A442, RTNS-II, 450℃, M., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33248
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A442. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33249. Au, A442, RTNS-II, 450℃, M., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33249
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A442. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33250. Au, A442, RTNS-II, 450℃, M., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33250
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A442. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33251. Au, A442, RTNS-II, 450℃, M., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33251
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A442. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33252. Au, A442, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33252
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A442. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33253. Au, A442, RTNS-II, 450℃, M., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33253
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A442. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)下2.5（＋）赤15（340）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33254. Au, A442, RTNS-II, 450℃, M., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33254
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A442. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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