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京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33806. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33806
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33807. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33807
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33808. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33808
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)Stereoのpart.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33809. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33809
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33810. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33810
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33811. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33811
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33812. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33812
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33813. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33813
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33814. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 21K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33814
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33815. Cu, RTNS-II, 290℃, S, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33815
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33816. Cu, RTNS-II, 290℃, S, BF, 21K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33816
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)ｓ中.

(備考)voids.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33817. Cu, RTNS-II, 290℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33817
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33818. Cu, RTNS-II, 290℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33818
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33819. Cu, RTNS-II, 290℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33819
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33820. Cu, RTNS-II, 290℃, S, ED., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33820
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33821. Cu, RTNS-II, 290℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33821
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35470. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35470
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)EMきれい　α　上20（-）黒3（20）　小さなものあるSFT?. 日付元記載「61年12月1日」.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35471. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35471
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35472. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35472
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)α.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35473. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35473
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(5).

(備考)α.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35474. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35474
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)β’　下14（-）黒9（10）.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35475. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35475
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)β’　.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35476. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35476
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)β’　.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35477. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35477
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)β’　.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35478. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35478
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β’　.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35479. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35479
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(4).

(備考)β　　　下20（-）黒9（0）.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35480. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35480
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(5).

(備考)β.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35481. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35481
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35482. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS, 100K., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35482
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35483. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35483
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35484. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35484
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35485. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35485
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35486. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35486
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35487. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35487
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35488. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35488
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35489. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35489
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35490. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35490
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)きれい　小さなものある　上1.5(-)黒2（120）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35491. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35491
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35492. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35492
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35493. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35493
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35494. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M, ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35494
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35495. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35495
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下9（＋）赤2（300）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35496. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35496
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35497. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35497
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35498. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35498
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35499. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35499
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35500. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35500
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下9　赤2（280）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35501. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35501
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35502. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35502
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35503. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35503
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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