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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15025. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15025
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15026. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15026
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15027. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15027
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15028. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15028
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15029. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15029
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15030. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15030
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15031. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15031
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15032. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15032
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15033. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15033
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15034. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15034
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15035. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15035
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15036. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15036
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15037. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15037
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15038. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15038
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15039. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15039
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15040. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15040
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15041. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15041
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15042. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15042
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15043. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15043
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15044. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15044
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15045. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15045
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15046. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15046
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15047. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15047
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dummy.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15048. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15048
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15049. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15049
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15050. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15050
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15051. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15051
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15052. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15052
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15053. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15053
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15054. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15054
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15055. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15055
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15056. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15056
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15057. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15057
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)ボツ.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15058. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15058
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15059. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15059
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15060. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15060
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15061., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15061
範囲と内容

(条件・倍率等).

(備考)ボツ.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15062. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15062
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15063. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15063
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)voidなし.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15064. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15064
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15065. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15065
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15066. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15066
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15067. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15067
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15068. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15068
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15069. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15069
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15070. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15070
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15071. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15071
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15072. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15072
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15073. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15073
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)転位そば.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15074. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15074
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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