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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15175. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15175
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15176. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15176
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15177. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15177
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15178. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15178
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)すぐ隣 A B?.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15179. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15179
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)さらに隣.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15180. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15180
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15181. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15181
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15182. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15182
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15183. Cu, RTNS-II, 150℃, S, ED., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15183
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15184. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15184
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15185. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15185
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15186. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15186
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15187. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15187
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15188. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15188
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15189. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15189
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15190. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15190
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15191. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15191
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15192. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15192
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15193. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15193
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15194. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15194
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15195. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15195
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15196. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15196
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15197. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15197
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)歪.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15198. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15198
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)歪.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15199. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15199
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15200. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, BF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15200
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15201. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15201
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15202. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15202
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15203. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15203
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15204. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15204
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)さらに隣.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15205. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15205
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15206. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15206
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15207. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15207
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15208. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15208
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15209. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, ED., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15209
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15210. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15210
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)dislocationあり.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15211. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15211
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)dislocationあり.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15212. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, BF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15212
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15213. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15213
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15214. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15214
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15215. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15215
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15216. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15216
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15217. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15217
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15218. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15218
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15219. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15219
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15220. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15220
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15221. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15221
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15222. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15222
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15223. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, ED., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15223
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Cu-2Sn（S　150℃　D3)は厚すぎる.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15224. Cu-2Si, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15224
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)再研磨後.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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