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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16433. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16433
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16434. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16434
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16435. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16435
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16436. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, ED, 55cm., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16436
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16437. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16437
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16438. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16438
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16439. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16439
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16440. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16440
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16441. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16441
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16442. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16442
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16443. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16443
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16444. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16444
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16445. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16445
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16446. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16446
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16447. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16447
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16448. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16448
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16449. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16449
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16450. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16450
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16451. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16451
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16452. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16452
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16453. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16453
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16454. Ni, A959, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16454
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A959. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)試料研磨不良.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16455. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16455
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16456. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16456
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16457. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16457
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16458. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16458
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16459. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16459
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16460. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16460
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16461. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16461
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16462. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16462
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16463. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16463
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16464. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16464
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16465. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16465
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16466. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16466
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16467. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16467
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16468. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16468
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16469. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16469
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16470. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16470
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16471. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16471
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　　　始点.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16472. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16472
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側　中点.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16473. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16473
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　　　終点.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16474. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16474
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16475. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16475
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16476. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16476
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16477. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16477
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16478. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16478
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16479. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16479
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16480. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16480
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16481. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16481
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16482. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16482
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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