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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16633. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16633
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16634. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16634
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16635. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16635
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16636. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16636
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16637. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16637
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16638. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16638
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16639. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16639
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)一つはずし.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16640. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16640
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16641. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16641
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16642. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16642
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16643. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16643
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16644. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16644
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)defects極めて少ない.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16645. Ni, A956, RTNS-II, 350℃, S, BF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16645
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A956. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ケンマ不良暗視野不可能.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16646. Ni, A798, RTNS-II, 350℃, S, BF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16646
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16647. Ni, A798, RTNS-II, 350℃, S, BF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16647
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16648. Ni, A798, RTNS-II, 350℃, S, BF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16648
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16649. Ni, A798, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16649
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16650. Ni, A798, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16650
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ボイドいるがその数極めて少ない.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16651. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16651
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16652. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16652
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16653. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16653
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16654. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16654
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16655. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16655
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16656. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16656
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16657. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16657
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)dislocationそば.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16658. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16658
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16659. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16659
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16660. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16660
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16661. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16661
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16662. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16662
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16663. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16663
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16664. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16664
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16665. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16665
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16666. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16666
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16667. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16667
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16668. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16668
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ゴミでてくる.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16669. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16669
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16670. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16670
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16671. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16671
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16672. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16672
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16673. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16673
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ボイドらしいもの見つからず.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20879. Fe, A204, HVEM, BF, 80K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20879
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)5min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20880. Fe, A204, HVEM, BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20880
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)5min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20881. Fe, A204, HVEM, ED., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20881
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)5min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20882. Fe, A204, HVEM, BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20882
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)5min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20883. Fe, A204, HVEM, DF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20883
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)5min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20884. Fe, A204, HVEM, ED., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20884
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)5min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20885. Fe, A204, HVEM, DF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20885
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)5min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20886. Fe, A204, HVEM, BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20886
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)1min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20887. Fe, A204, HVEM, BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20887
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)1min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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