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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27001. SUS, Ke401, RTNS-IIlast, RT, SS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27001
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)Ke401. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27002. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27002
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0　（3）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27003. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27003
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27004. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27004
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0　（4）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27005. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27005
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0　（4）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27006. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27006
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)SFT　GB近くにいる.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27007. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27007
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)loop　GB近くにいない.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27008. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27008
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27009. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27009
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27010. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27010
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27011. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27011
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)一ノ戸.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27012. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27012
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)使ったGrain.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27013. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27013
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)もう1つのGrain.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27014. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27014
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27015. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27015
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27016. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27016
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27017. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27017
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27018. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27018
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27019. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27019
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27020. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27020
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27021. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27021
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27022. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27022
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27023. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27023
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27024. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 37K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27024
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27025. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 200K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27025
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27026. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27026
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)写したGB.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27027. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27027
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)反対のGB.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27028. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27028
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27029. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27029
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27030. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, DE., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27030
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27031. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27031
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27032. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27032
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27033. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27033
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27034. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27034
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27035. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27035
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27036. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27036
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)BFちかくまで転位ループあり.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27037. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27037
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27038. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27038
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27039. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27039
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27040. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27040
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27041. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-27041
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)写したGB.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27042. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27042
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)隣のGB.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27043. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS, 20K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-27043
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K.

(備考)LM　.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27044. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27044
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上の隣のGB.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27045. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27045
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)SFT.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27046. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27046
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Loop　GB近くまであり.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27047. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27047
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27048. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27048
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27049. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27049
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27050. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27050
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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