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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37745. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37745
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37746. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37746
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37747. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37747
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37748. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37748
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37749. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37749
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37750. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37750
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37751. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37751
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37752. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37752
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37753. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37753
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37754. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37754
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37755. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37755
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37756. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37756
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37757. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 15K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37757
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37758. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 150K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37758
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37759. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37759
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37760. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37760
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37761. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37761
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37762. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37762
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37763. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37763
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37764. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37764
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37765. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37765
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37766. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37766
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37767. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37767
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37768. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37768
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37769. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37769
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37770. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 37K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37770
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37771. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 37K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37771
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37772. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37772
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37773. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37773
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37774. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37774
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37775. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37775
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37776. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37776
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37777. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37777
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37778. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37778
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37779. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37779
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37780. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37780
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37781. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37781
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37782. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37782
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37783. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37783
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37784. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37784
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37785. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 37K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37785
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37786. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37786
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37787. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37787
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37788. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37788
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37789. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37789
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37790. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37790
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37791. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37791
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37792. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37792
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37793. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37793
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37794. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37794
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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