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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37995. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37995
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37996. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37996
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37997. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37997
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37998. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37998
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37999. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37999
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)隣.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38000. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38000
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38001. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38001
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38002. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 37K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38002
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)GB.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38003. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 37K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38003
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38004. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38004
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)離.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38005. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38005
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)さらに離れる.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38006. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 10K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38006
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)転位のdenuted　zone.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38007. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, BF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38007
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)別のgrain　boundary.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38008. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38008
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)また別のGB.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38009. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38009
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38010. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38010
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)BとCは同じ.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38011. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38011
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)D.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38012. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, BF, 10K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38012
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)CDの.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38013. Cu-2Ni, JMTRcontrolled., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38013
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled.

(備考)Aの部分　voidがやや多いような気がする。.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38014. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38014
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38015. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38015
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38016. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38016
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)大きく写っているのはごみ.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38017. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38017
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38018. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38018
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ループいない.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38019. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38019
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38020. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38020
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部厚い所　void　loop全くいない.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38021. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38021
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)同上視野.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38022. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38022
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38023. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38023
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38024. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38024
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38025. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38025
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38026. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38026
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38027. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38027
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38028. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38028
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38029. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38029
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)SFTのみらしい.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38030. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38030
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38031. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38031
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38032. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38032
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別の小さな穴　厚い.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38033. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38033
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38034. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38034
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38035. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38035
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38036. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38036
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38037. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38037
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38038. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38038
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38039. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38039
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38040. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38040
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38041. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38041
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38042. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38042
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38043. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38043
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38044. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38044
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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