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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38680. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38680
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38681. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38681
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38682. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38682
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38683. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38683
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38684. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38684
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38685. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38685
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38686. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38686
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38687. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38687
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38688. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38688
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38689. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38689
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)89-98は一組.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38690. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38690
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38691. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38691
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38692. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38692
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38693. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38693
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38694. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38694
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38695. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, BF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38695
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38696. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, BF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38696
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38697. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, BF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38697
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38698. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, BF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38698
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38699. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38699
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38700. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38700
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)以上ここまでα.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38701. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38701
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38702. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38702
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38703. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38703
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38704. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38704
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38705. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38705
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38706. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38706
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38707. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38707
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38708. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38708
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38709. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38709
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38710. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38710
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)g　上向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38711. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38711
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38712. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38712
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38713. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38713
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38714. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38714
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38715. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38715
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38716. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38716
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38717. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38717
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38718. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38718
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38719. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38719
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38720. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38720
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38721. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38721
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38722. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38722
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38723. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38723
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)他のGrain.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38724. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38724
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38725. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38725
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38726. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38726
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38727. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38727
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38728. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38728
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38729. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38729
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0 (3).

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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