メインコンテンツへスキップ

北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

 団体

関係者用

42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39034. SUS, 　B777, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39034
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39035. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39035
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)極微細なdotsがまばらにいる。.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39036. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39036
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)DF s＞0では殆ど見えない.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39037. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39037
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)s＞＞0では良く見える.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39038. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39038
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)s＞＞＞0では極めて小さく見える.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39039. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39039
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39040. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, ED, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39040
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)50K.

(備考)以上38-40は一組　1.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39041. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39041
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39042. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, ED., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39042
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)以上41-42は一組　2.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39043. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39043
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)かぶったために使用不可.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39386. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39386
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)JMTR(01) コントロール. 日付元記載「89 1/28」.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39387. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39387
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39388. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39388
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39389. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39389
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39390. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39390
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39391. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39391
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39392. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39392
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39393. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39393
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39394. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39394
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s≦0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39395. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39395
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39396. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39396
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 上向き.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39397. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39397
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39398. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39398
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39399. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39399
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 上向き.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39400. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39400
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39401. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39401
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39402. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39402
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A 1.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39403. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39403
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B 1.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39404. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39404
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A 2.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39405. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39405
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B 2.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39406. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39406
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39407. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, BF, 330k., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39407
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)330k. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)1.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39408. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39408
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)1.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39409. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 330k., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39409
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330k. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)2.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39410. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39410
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)2.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39411. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, BF, 30K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39411
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)3.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39412. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39412
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)3.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39413. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, BF, 330K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39413
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)330K.

(備考)3 撮り直し.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39414. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, BF, 330k., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39414
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)330k.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39415. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39415
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39416. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 50K., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39416
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)JMTR(01) コントロール. 日付元記載「1/28」.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39417. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39417
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39418. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39418
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39419. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39419
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39420. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39420
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞1.

(備考)以下20-24ハステレオ　　A 1.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39421. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39421
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B 1.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39422. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39422
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39423. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39423
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞1.

(備考)A' 2.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39424. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39424
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B' 2.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39425. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39425
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ