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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39676. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39676
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)EM アンコントロール. 日付元記載「2/1」.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39677. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39677
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39678. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39678
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39679. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39679
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39680. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39680
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39681. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39681
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39682. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39682
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39683. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, ED, 55cm., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39683
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39684. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39684
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39685. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39685
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39686. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39686
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39687. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39687
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39688. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39688
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39689. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39689
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39690. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39690
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39691. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39691
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39692. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39692
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39693. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39693
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39694. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, ED, 55cm., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39694
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39695. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39695
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39696. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39696
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39697. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39697
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39698. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39698
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39699. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39699
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39700. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, ED, 55cm., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39700
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39701. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39701
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39702. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39702
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)転位.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39703. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39703
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 右斜め上. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)アンコントロール. 日付元記載「2/1」.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39704. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39704
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 右斜め上. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39705. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39705
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 右斜め上. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39706. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39706
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 右斜め上. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39707. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39707
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 右斜め上. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39708. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39708
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 左斜め下. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39709. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39709
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 左斜め下. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39710. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39710
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 左斜め下. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39711. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39711
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 左斜め下. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39712. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

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資料番号: L-39712
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 左斜め下. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39713. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

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資料番号: L-39713
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 左斜め下. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39714. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39714
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 左斜め下. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39715. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

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資料番号: L-39715
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 左斜め下. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39716. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

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資料番号: L-39716
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 左斜め下.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39717. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39717
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 左斜め下.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39718. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

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資料番号: L-39718
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 右斜め上. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39719. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39719
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 右斜め上. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39720. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39720
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 右斜め上. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39721. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39721
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 右斜め上.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39722. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39722
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 右斜め上.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39723. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, ED, 57cm., [1989年]2/1.

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資料番号: L-39723
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm. (反射ベクトルg)g 右斜め上.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39724. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39724
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)以下28までα　アンコントロール. 日付元記載「2/1」.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39725. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39725
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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