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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40624. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40624
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40625. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40625
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40626. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 330K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40626
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40627. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 330K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40627
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40628. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40628
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40629. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 270K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40629
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)270K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40630. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40630
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40631. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40631
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40632. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 330K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40632
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40633. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40633
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40634. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40634
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40635. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 330K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40635
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40636. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40636
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40637. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40637
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40638. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 330K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40638
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40639. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 150K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40639
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40640. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 150K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40640
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40641. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 150K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40641
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40642. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 330K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40642
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40643. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 150K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40643
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40644. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40644
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40645. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40645
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40646. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, BF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40646
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40647. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40647
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40648. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40648
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40649. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40649
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40650. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40650
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40651. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40651
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40652. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40652
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40653. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40653
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40654. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40654
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2 B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40655. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40655
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40656. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40656
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40657. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40657
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2 B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40658. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40658
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40659. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40659
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40660. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40660
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40661. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40661
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40662. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40662
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40663. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40663
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)slipしている.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40664. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40664
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40665. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40665
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40666. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, BF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40666
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部　ゴミ.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40667. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40667
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40668. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, BF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40668
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40669. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40669
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40670. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40670
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40671. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40671
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40672. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40672
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40673. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40673
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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