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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40674. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40674
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40675. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40675
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40676. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40676
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40677. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40677
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40678. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40678
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40679. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40679
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40680. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40680
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40681. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40681
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40682. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40682
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40683. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40683
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40684. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40684
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40685. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, BF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40685
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40686. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40686
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)667からの続き.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40687. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, BF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40687
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40688. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40688
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40689. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40689
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40690. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40690
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40691. ムライト, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40691
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40692. ムライト, BF., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40692
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40693. ムライト., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40693
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40694. ムライト., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40694
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40695. ムライト., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40695
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41351. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41351
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)110. 日付元記載「平成元 6/5」.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41352. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41352
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)100.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41353. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41353
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41354. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41354
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)SFT 四角にみえるが.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41355. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41355
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41356. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41356
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41357. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41357
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41358. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41358
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41359. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41359
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41360. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41360
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)110.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41361. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41361
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41362. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41362
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41363. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41363
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)↓ 1.5～2°傾けステレオ　.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41364. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41364
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)↑.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41365. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41365
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41366. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41366
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41367. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41367
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41368. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS, ED., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41368
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41369. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41369
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)再び　100.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41370. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41370
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41371. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41371
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41372. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41372
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41373. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS, ED., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41373
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41374. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41374
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41375. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, BF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41375
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41376. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41376
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41377. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41377
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 B defocus.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41378. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41378
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 B defocus.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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