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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41580. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41580
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41581. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41581
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41582. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41582
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下記3枚一組.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41583. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41583
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41584. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41584
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41585. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41585
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41586. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41586
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　A.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41587. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41587
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41588. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41588
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　A.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41589. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41589
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41590. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41590
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41591. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41591
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41592. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41592
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41593. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41593
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41594. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41594
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41595. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41595
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41596. SUS, K206, RTNS-II, RT, M2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41596
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K206. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41597. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41597
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)いるかもしれない.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41598. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41598
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41599. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41599
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41600. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41600
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41601. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, ED ミス., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41601
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)ED ミス.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41602. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41602
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41603. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41603
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41604. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41604
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41605. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41605
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41606. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41606
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41607. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41607
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41608. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41608
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41609. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41609
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41610. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41610
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41611. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41611
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41612. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, ED, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41612
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41613. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41613
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41614. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41614
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41615. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41615
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41616. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41616
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41617. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41617
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41618. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41618
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41619. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41619
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41620. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41620
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41621. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41621
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)1°.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41622. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41622
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41623. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41623
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41624. SUS, K286, RTNS-II, 350°, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41624
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41625. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41625
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41626. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41626
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41627. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41627
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41628. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41628
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41629. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41629
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)1°.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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