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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41630. SUS, K286, RTNS-II, 350°, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41630
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41631. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41631
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41632. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41632
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)下記４枚一組.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41633. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41633
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41634. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41634
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41635. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41635
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41636. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41636
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)下記２枚一組.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41637. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41637
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41638. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41638
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41639. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, ED　ミス., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41639
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED　ミス.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41640. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41640
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41641. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41641
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41642. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41642
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41643. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41643
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41644. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41644
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41645. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41645
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)1°.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41646. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41646
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41647. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41647
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41648. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41648
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41649. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41649
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41650. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41650
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41651. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41651
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41652. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41652
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41653. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41653
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41654. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41654
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41655. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41655
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41656. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41656
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41657. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41657
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41658. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41658
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41659. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41659
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41660. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41660
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41661. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 330K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41661
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)以上すべて同Grain.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41662. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41662
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41663. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41663
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41664. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41664
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41665. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41665
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41666. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41666
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41667. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41667
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41668. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41668
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41669. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41669
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41670. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41670
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 2/1/2 ゴミをのぞくため.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41671. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41671
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41672. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41672
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41673. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41673
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41674. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41674
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41675. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41675
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41676. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41676
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41677. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41677
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41678. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41678
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41679. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41679
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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