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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41730. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 30K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41730
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41731. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41731
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41732. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41732
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.5～4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41733. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41733
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41734. SUS, J129, RTNS-II, 290°, WW, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41734
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41735. SUS, J129, RTNS-II, 290°, WW, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41735
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41736. SUS, J129, RTNS-II, 290°, WW, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41736
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41737. SUS, J129, RTNS-II, 290°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41737
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下記37-40は一組.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41738. SUS, J129, RTNS-II, 290°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41738
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41739. SUS, J129, RTNS-II, 290°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41739
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.5～.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41740. SUS, J129, RTNS-II, 290°, WW, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41740
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41741. SUS, J129, RTNS-II, 290°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41741
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.5.

(備考)下記41-44は一組.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41742. SUS, J129, RTNS-II, 290°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41742
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41743. SUS, J129, RTNS-II, 290°, WW, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41743
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41744. SUS, J129, RTNS-II, 290°, WW, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41744
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41745. SUS, J129, RTNS-II, 290°, WW, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41745
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41746. SUS, J129, RTNS-II, 290°, WW, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41746
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41747. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41747
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α A. 日付元記載「1989. 6. 9.」. 実験者元記載「M.K.」.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41748. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41748
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α A over.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41749. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41749
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α A under.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41750. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 20K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41750
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α B.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41751. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, ED., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41751
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41752. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41752
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41753. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 20K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41753
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α B.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41754. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41754
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41755. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 20K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41755
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)β B.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41756. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, ED., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41756
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41757. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, ミス., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41757
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ミス.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41758. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41758
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41759. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 20K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41759
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β B.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41760. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41760
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41761. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41761
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)β A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41762. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, BF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41762
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)β A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41763. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41763
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α A.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41764. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41764
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α A.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41765. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41765
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α B.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41766. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41766
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41767. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41767
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α A.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41768. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41768
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α B.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41769. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41769
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β A.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41770. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41770
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β B.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41771. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41771
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41772. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41772
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β A.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41773. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41773
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β B.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41774. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41774
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β A.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41775. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41775
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β B.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41776. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41776
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41777. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, BF, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41777
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41778. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41778
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)小さいのはたぶんSFT Focusで動かず.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41779. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41779
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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