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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41780. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41780
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41781. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41781
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0(3).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41782. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41782
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41783. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41783
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3.5).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41784. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41784
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41785. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41785
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41786. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41786
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41787. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41787
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

(備考)1°傾け　Yステレオ.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41788. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41788
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

(備考)1°傾け　Yステレオ.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41789. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41789
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41790. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41790
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41791. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41791
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41792. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41792
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0(3).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41793. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41793
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41794. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41794
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0(3.5).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41795. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41795
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41796. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41796
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)fine大左へ(4).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41797. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41797
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0(4).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41798. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41798
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0(4).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41799. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41799
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)fine大左へ(2).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41800. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41800
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41801. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41801
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0(3).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41802. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41802
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)fine大左へ(2).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41803. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41803
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41804. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41804
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41805. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41805
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41806. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41806
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41807. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41807
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41808. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41808
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41809. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41809
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41810. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41810
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41811. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41811
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)fine大左へ3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41812. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41812
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)右へ3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41813. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41813
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41814. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41814
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)左へ3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41815. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41815
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)右へ3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41816. SUS316, JMTR controlled, 290°, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41816
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0(3)just.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41817. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41817
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)左へ3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41818. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41818
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)右へ3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41819. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41819
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41820. SUS316, JMTR controlled, 290°, ED., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41820
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41821. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41821
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)s＞0 just.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41822. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41822
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)s＞0左へ3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41823. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41823
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)右へ3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41824. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41824
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41825. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41825
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)s＞0 just.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41826. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41826
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)s＞0 左へ3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41827. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41827
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)右へ3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41828. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41828
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)s＞0(4).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41829. SUS316, JMTR controlled, 290°, ED., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41829
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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