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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41830. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41830
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)s＞0 just.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41831. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41831
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)左へ4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41832. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41832
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)右へ4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41833. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41833
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41834. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41834
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41835. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41835
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)左へ4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41836. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41836
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)右へ4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41837. SUS316, JMTR controlled, 290°, ED., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41837
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41838. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41838
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)100近く.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41839. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41839
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41840. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41840
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)左へ4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41841. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41841
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)右へ4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41842. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41842
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41843. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41843
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41844. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41844
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3.5).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41845. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41845
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41846. SUS316, JMTR controlled, 290°., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41846
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41847. SUS316, JMTR controlled, 290°, ED., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41847
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41848. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41848
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41849. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41849
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41850. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41850
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41851. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41851
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41852. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41852
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41853. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41853
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.5.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41854. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, ED., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41854
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41855. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41855
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41856. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41856
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41857. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41857
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上記ここまでスティグマあっていない.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41858. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41858
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41859. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, ED., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41859
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41860. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41860
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41861. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41861
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41862. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41862
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41863. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41863
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41864. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41864
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41865. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41865
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41866. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41866
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41867. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41867
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41868. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41868
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41869. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41869
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41870. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41870
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41871. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41871
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41872. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41872
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41873. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41873
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41874. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41874
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41875. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41875
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41876. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, DF, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41876
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41877. SUS, K256, RTNS-II, 150℃, M, ED., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41877
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K256. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41878. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 10K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41878
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41879. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41879
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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