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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42849. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42849
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42850. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42850
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42851. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42851
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42852. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42852
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42853. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42853
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42854. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42854
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42855. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42855
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42856. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42856
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42857. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42857
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42858. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42858
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42859. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42859
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42860. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42860
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42861. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42861
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42862. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42862
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42863. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42863
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42864. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42864
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42865. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42865
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42866. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42866
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42867. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42867
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42868. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42868
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42869. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42869
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42870. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42870
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42871. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, ED, 55cm., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42871
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42872. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42872
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42873. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42873
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42874. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42874
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42875. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42875
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42876. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, ED, 55cm., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42876
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42877. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42877
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)α2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42878. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42878
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42879. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42879
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42880. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42880
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42881. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42881
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42882. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42882
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42883. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42883
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)β2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42884. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42884
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42885. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42885
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42886. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42886
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42887. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42887
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42888. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42888
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42889. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42889
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42890. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42890
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42891. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42891
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42892. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42892
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42893. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, ED, 55cm., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42893
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42894. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42894
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42895. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42895
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42896. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42896
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42897. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42897
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42898. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42898
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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